3D Laserscanning-Mikroskop (Reflexion)

Technische Spezifikationen

  • 16-Bit Konfokales 3D Laserscanning-Mikroskop
  • Steuerung: VK-X1000
  • Messkopf: VK-X1100
  • Objekttisch (motorisiert)
  • Wellenlänge des violetten Halbleiterlasers: 404 nm
  • Vergrösserungsfaktor: 42x bis 28’800x
  • Z-Anzeigeauflösung: 0.5 nm
  • WIDE-Scan zur Erweiterung des Bildfeldes bei hoher Vergrößerung
  • VK-X Bildzusammensetzungssoftware für die Messung grosser Bereiche mit hoher Auflösung
  • Keine Probenvorbereitung oder Vakuum nötig

Bildoptionen

  • Hochauflösendes CMOS-Farbbild
  • Konfokales 16-Bit Laserfarbbild
  • Konfokale Lochblendenoptik mit ND-Filter (Fokusvariation)
  • 3D-Darstellung mit Höhenskala
  • C-Laser DIK-Bild (Differential-Interferenz-Kontrast)

Typische Applikationen

  • Schnelle Betrachtung der Messobjekte in Echtfarben (für matte, spiegelnde und transparente Oberflächen)
  • Profil-, Rauheit-, Volumen-, Oberflächen- und Schichtdickenmessungen
  • Automatische Auswertung und Vergleichsfunktionen
  • Stitching- und Rauheitsprogramme (nach ISO)

Standort

Departement Physik, Labor 0.17

 

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