TEM – Jeol JEM-F200 cFEG

Technische Spezifikationen

  • kalte Feld­emissions­quelle
  • 20 bis 200 kV Beschleunigungsspannung
  • Auflösung:

TEM, Punkt: 0.19 nm
TEM, Gitter: 0.10 nm
STEM-HAADF: 0.14 nm

  • Vergrösserung TEM von x 20 bis x 2.0 M; STEM von x 200 bis x 150 M
  • Energiedispersive Röntgenstrahlspektroskopie (EDS)
  • Max. Kippwinkel: ±80° (mit High-Tilt-Halter)

Abbildungsmodi

  • HAAF STEM (High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy)
  • Bright-field (BF) & dark-field (DF) TEM and STEM, as well as analysis from various types of detectors
  • 3D-EDS Tomographie: Rekonstruktionsverfahren dreidimensionaler innerer Strukturen durch Computerbildverarbeitung vieler Projektionsbilder, die aus sequentiellen Tilt-Serienbildern einer Probe gewonnen werden.

Typische Applikationen

  • Analyse von biologischen Proben
  • Charakterisierung von Nanopartikeln und Materialschichten
  • Atomare Auflösung

Standort

Pharmazentrum, PZ U1097

 

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