REM – Hitachi S-4800

Technische Spezifikationen

  • Hochauflösendes Kaltfeldemissions-Rasterelektronenmikroskop
  • Auflösung Elektronenstrahl:
    – 1.0 nm bei 15 kV
    – 1.4 nm bei 1 kV
  • Vergrösserung von 20x bis 800’000x

Detektoren

  • SE Detektor (normal)
  • SE In-Lens Detektor
  • YAG-Rückstreu-Elektronendetektor

Typische Applikationen

  • Hochauflösende, topographische Kontrastbildgebung von Festkörpern

Standort

Pharmazentrum, U1003

 

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