REM – Zeiss GeminiSEM 450

Technische Spezifikationen

  • Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM Schottky)
  • verfügt über Gemini 2-Optik mit einem Doppelkondensor, welcher eine kontinuierliche Anpassung des Elektronenstrahls von 0.02 – 30kV (10V-Schritte) ermöglicht
  • Auflösung Elektronenstrahl:
    • 0.7 nm @ 15 kV
    • 1.1 nm @ 500 V and 1 kV
  • Vergrösserung:  12x – 2’000’000x

Detektoren und Mikroanalyse

  • SE InLens Detektor
  • EsB Detektor, Energy-selective Backscattered Detektor zur SE- und BSE-Detektion
  • SE2 Detektor (Everhart-Thornley)
  • VPSE Detektor, Variable Presssure Secondary Electron Detektor zur Untersuchung von nicht-leitenden Oberflächen
  • aSTEM Detektor
  • aBSD Detektor, annular BackScattered electron Detector für hocheffiziente und winkelselektive Materialcharakterisierung
  • Octane Elite Detektor zur Bestimmung leichter Elemente und Mikroanalyse bei niedrigen kV in Kombination mit der Velocity Pro EBSD-Kamera (Electron BackScatter Diffraction) von EDAX
  • Charakterisierung von Electron Backscatter Diffraction (EBSD)-Mustern (Kristallorientierung) innerhalb der APEX-Softwareplattform

Typische Applikationen

  • Abbildung und Materialanalyse
  • Kristallographische Bestimmung im Nanobereich

Standort

Pharmazentrum, U1002

 

GeminiSEM 450