Rasterelektronenmikroskop (REM & Kryo-REM)

Mit REM untersuchen wir die Oberfläche einer Probe mit Sekundärelektronen (SE) und erstellen ein topografisches Bild. Mit Rückstreuelektronen (BSE) erhalten wir Informationen über die qualitative Materialzusammensetzung. Zusätzlich besteht die Möglichkeit, wasserhaltige Proben ohne Trocknungsartefakte mittels Schockfrieren im Kryo-REM abzubilden.