Bruker/JPK NanoWizard 4 (AFM – Atomic Force Microscopy)

Technische Spezifikationen

  • Maximale Probengrösse bis 14 cm im Durchmesser und 18 mm Dicke
  • Messbilder bis 100 µm in X & Y und 15 µm in Z-Höhe
  • Gas- und Flüssigkeitszelle (HyperDrive™ fluid imaging für High Resolution AFM)
  • Temperaturkontrolle von 15°C bis 60°C
  • QI-Mode (High-resolution quantitative imaging)
  • Kompatibel mit Zeiss Inversmikroskop

Modi

  • Standard Abbildungsmodi: Contact Mode, Tapping Mode
  • Phase Imaging Mode
  • Lateral Force Mode
  • Magnetic Force Microscopy (MFM)
  • Electrostatic Force Microscopy (EFM)
  • Force Spectroscopy (Adhäsion, Elastizität und Youngs Modulus)
  • Force Modulation
  • Kelvin Probe Microscopy (KPFM)
  • Conductive AFM (CAFM)
  • Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
  • Nanomanipulation und Nanolithographie

Typische Applikationen

  • Rauheitsmessungen auf Oberflächen
  • Stufenhöhe und Oberflächencharakterisierung
  • Kraftdistanzkurven auf Zellstrukturen und Biomembranen
  • Mapping der nanomechanischen Eigenschaften

Standort

Biozentrum, Labor U160L