Flex-Axiom Nanosurf (AFM – Atomic Force Microscopy)

Technische Spezifikationen

  • Maximale Probengrösse bis 100 mm im Durchmesser und 6mm Dicke
  • Messkopf bis 100 µm in X & Y und 10 µm in Z-Höhe
  • Messkopf bis 10 µm in X & Y und 3 µm in Z-Höhe
  • Flüssigkeitszelle
  • Temperaturkontrolle von 20°C bis 180°C

Modi

  • Standard Abbildungsmodi: Static Force Mode, Dynamic Force Mode (Tapping Mode)
  • Phase Imaging Mode
  • Lateral Force Mode
  • Magnetic Force Microscopy (MFM)
  • Electrostatic Force Microscopy (EFM)
  • Force Spectroscopy (Adhäsion, Elastizität und Youngs Modulus)
  • Force Modulation
  • Nanomanipulation und Nanolithographie

Typische Applikationen

  • Rauheitsmessungen auf Oberflächen
  • Stufenhöhe und Oberflächencharakterisierung
  • Kraftdistanzkurven auf Zellstrukturen und Elastizitätsmessungen auf biologischen Membranen

Standort

Departement Physik, Labor 0.17

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