Flex-Axiom Nanosurf (AFM – Atomic Force Microscopy)

  • AFM Modi: Kontaktmodus, Intermittierender (Tapping) Modus, Phasenkontrastmodus, Reibungskraftmessung, Kraftspektroskopie-Modi, MFM / EFM, Lithographie
  • Standardmodi in Luft oder Flüssigkeiten anwendbar
  • Maximale Scangrösse: 100 x 100 µm in X & Y, 10 µm in Z
  • Probengrösse bis 100 mm im Durchmesser auf der Stage (Tip-Scanning Design)

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