Bruker Dimension 3100 (AFM – Atomic Force Microscopy)

Technische Spezifikationen

  • Maximale Probengrösse bis 20 cm im Durchmesser und 12 mm Dicke
  • Messbilder bis 90 µm in X & Y und 6 µm in Z-Höhe
  • in Luft und in Flüssigkeiten anwendbar

Modi

  • Contact Mode, Tapping Mode
  • Lateral Force Mode
  • Phase Imaging Mode
  • Magnetic Force Microscopy (MFM)
  • Electrostatic Force Microscopy (EFM)

Typische Applikationen

  • Charakterisierung von Oberflächenrauheiten
  • Stufenhöhe und Abbildung der Topographie

Standort

Departement Physik, Labor 0.17