Atomic Force Microscopy (AFM)

Mit der am Ende eines feinen Messbalkens angebrachten Spitze wird die Oberfläche auf Mikrometerskala abgetastet. Die Kräfte, welche zwischen der Probenoberfläche und der Spitze wirken, können zudem zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften, wie z.B. die Adhäsion, Ladungsverteilung, Elastizität, magnetische oder elektrostatische Feldstärke oder die Oberflächenleitfähigkeit genutzt werden.